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X光管和大面积硅漂移探测器（SDD）地耦合在一起，能够满足客户严苛的材质管控需求。
出众的轻元素（镁铝硅磷硫）分析可对组件及系统进行严格控制
检测限制低，可准确分析微量元素/残存元素
快速准确的元素分析和牌号鉴定（自带牌号库）
效率佳：重量轻（1.5千克），体积小，人体工程学设计，电池具有10-12小时的续航能力
数秒内完成开机并进行检测
仪器头部小：可轻松检测弯曲或拐角部位（如焊缝）
合金分析仪的是一种XRF光谱分析技术，可用于确认物质里的特定元素， 同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长（λ）及能量（E）确定具体元素，而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。如此一来，XRF度普术就能测定物质的元素构成。
每一个原子都有自己固定数量的电子（负电微粒）运行在核子周围的轨道上。而且其电子的数量等同于核子中的质子（正电微粒）数量。从元素周期表中的原子数我们则可以得知质子的数目。每一个原子数都对应固定的元素名称，例如铁，元素名是Fe，原子数是26。 能量色散X萤光与波长色散X萤光光谱分析技术特别研究与应用了里层三个电子轨道即K，L，M上的活动情况，其中K轨道为接近核子，每个电子轨道则对应某元素一个个特定的能量层
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